Ende des letzten Jahres konnte am Lehrstuhl für Metallkunde eine weitere kostenintensive Ersatzinvestition realisiert werden. Durch die Verfügbarkeit eines überholten FIB aus dem Demolabor von Tescan wurde entschieden, das noch bestehende alte FIB zu ersetzen.
Das Gerät wurde Ende letzten Jahres am Lehrstuhl erfolgreich installiert und steht nach Einschulungen durch Tescan im Jänner nun zur Verfügung. Neben der Ionensäule, die eine zielgenaue Präparation von Gefügebestandteilen zur weiteren mikrostrukturellen, mechanischen oder chemischen Analyse ermöglicht, verfügt das Mikroskop über eine Elektronensäule, die eine stufenlose Regelung von Beschleunigungsspannung und Probenstrom ermöglicht. Während der Fokus des ebenfalls vor kurzem angeschafften Zeiss Crossbeam 550 vor allem auf der Analytik liegt, wird das FIB Tescan Amber zukünftig vor allem eine weitere Automatisierung der Probenpräparation für die Atomsondentomografie und Transmissionselektronenmikroskopie erlauben. Durch den fs-Laser war schon bisher eine zielgenaue Vorpräparation von Atomsondenspitzen oder TEM-Lamellen möglich, wodurch die nachfolgende FIB-Zeit zur finalen Dünnung bereits signifikant reduziert werden konnte. Mit dem Tescan Amber ist nun ein direkter Koordinatentransfer vom fs-Laser auf das FIB möglich, was die Automatisierung der FIB Präparation weiter erleichtert.
Das Gerät konnte bereits erfolgreich für erste Präparationen eingesetzt werden und stellt eine nachhaltige Lösung für das FIB-Labor für die kommenden Jahre dar. Wir freuen uns über die erweiterten Forschungs- und Analysemöglichkeiten und blicken gespannt auf die neuen wissenschaftlichen Erkenntnisse, die mit der Tescan Amber erzielt werden können.
