Ende des Sommers konnte am Lehrstuhl für Metallkunde eine kostenintensive Investition und bedeutende Neuanschaffung realisiert werden. Ein dual beam fokussiertes Ionenstrahl- Rasterelektronenmikroskop (FIB-REM) Crossbeam 550 der Firma ZEISS wurde nach Einschulung und Installation erfolgreich in Betrieb genommen.
Neben der Ionensäule, die eine zielgenaue Präparation von Gefügebestandteilen zur weiteren mikrostrukturellen, mechanischen oder chemischen Analyse ermöglicht, verfügt das Mikroskop über eine Elektronensäule (Doppelkondensor), die eine stufenlose Regelung von Beschleunigungsspannung und Probenstrom ermöglicht. Zusammen mit zwei EDX- und einem EBSD-Detektor zur chemischen und kristallographischen Analyse erlaubt dies völlig neue Einblicke in die Mikrostruktur und deren Charakterisierung. Der EBSD-Detektor ermöglicht die Verarbeitung von bis zu 6000 Kikuchi-Patterns pro Sekunde und damit die Analyse von großen Probenbereichen. Zukünftig ist damit auch die bisher sehr zeitaufwändige Analyse von lokalen Dehnungen in größeren Bereichen möglich. Zusätzlich wurde eine Detektorkonfiguration gewählt, die besonders bei kristallographischen Analysen in Transmission deutlich verbesserte Indizierungsergebnisse liefert.
Der fensterlose EDX Detektor erlaubt nun nicht nur die Analyse leichter chemische Elemente wie Bor, sondern durch die hohe Sensitivität bei geringen Beschleunigungsspannungen auch die chemische Analyse von sehr kleinen Phasenbereichen (>100 nm).
Das Gerät konnte bereits erfolgreich für erste Messungen eingesetzt werden und stellt eine strategisch hochbedeutende Investition im Bereich der hochauflösenden Analytik und Probenpräparation da. Mit der am Lehrstuhl intensiv betriebenen Atomsondentomographie kann somit ein Stärkenfeld des Departments weiter ausgebaut werden.
Wir freuen uns über die erweiterten Forschungs- und Analysemöglichkeiten und blicken gespannt auf die neuen wissenschaftlichen Erkenntnisse, die mit dem Crossbeam 550 erzielt werden können.
