Mit Beginn des Jahres wurde an unserem Department ein neues EU-Projekt in Kooperation mit hochrangigen internationalen Forschungsinstituten (Universita degli Studi Roma Tre, University of Oxford , Fraunhofer-Institut für Zerstörungsfreie Prüfverfahren, Fraunhofer-Institut für Elektronische Nanosysteme, Universität Erlangen-Nürnberg, Technische Universität Darmstadt, National Physical Laboratory Teddington, ETH Zürich, Universität Brescia) und Industriepartnern (Bosch, Thales, Tescan, Nanotest) mit dem Titel "IStress - Prestandardisation of incremental FIB micro-milling for intrinsic stress evalutation" gestartet.
Eines der Hauptziele des Projektes ist die Entwicklung einer innovativen, reproduzierbaren und automatisierten Methode zur tiefenaufgelösten Bestimmung der Eigenspannung auf der Submikrometer-Skala für eine breite Palette von mikro/nanostrukturierten und amorphen Materialien (Mikroschweißnähte, Metallverbindungen), Multilagen-Dünnschichten, elektromechanischen Mikrosystemen und Verschleißschutzschichten.
Ein anderes Ziel ist die Charakterisierung der Beziehungen zwischen messbaren Parametern (z.B. Mikrostruktur, Spannungszustand, mechanische und funktionelle Eigenschaften) von nano- zu makroskopischen Skalen. Damit wird die Entwicklung innovativer Gestaltungsregeln zur Steuerung der Eigenspannungen für die Herstellung von technisch relevanten Materialien mit verbesserter Leistung angestrebt.
Die angewandte Methodik basiert auf stufenweiser Materialbearbeitung mit fokussierten Ionenstrahlen (FIB), die mit hochauflösender Bildgebung mittels in-situ Rasterelektronenmikroskopie (SEM), Vollfeldspannungsanalyse mittels digitaler Bildkorrelation (DIC) und analytischen/numerischen Modellen zur Berechnung der Eigenspannungen korreliert wird. Die Aufgabe des Lehrstuhls für Funktionelle Werkstoffe und Werkstoffsysteme ist es, Schichtsysteme mit definierten Eigenspannungsprofilen zu synthetisieren.